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塵埃粒子計(jì)數(shù)器是用于測(cè)量潔凈環(huán)境中單位體積內(nèi)塵埃粒子數(shù)和粒徑分布的儀器。它可廣泛應(yīng)用于為各省市藥檢所、血液中心、防疫站、疾控中心、質(zhì)量監(jiān)督所等權(quán)wei機(jī)構(gòu)、電子行業(yè)、制藥車間、半導(dǎo)體、光學(xué)或精密機(jī)械加工、塑膠、噴漆、醫(yī)院、環(huán)保、檢驗(yàn)所等生產(chǎn)企業(yè)和科研部門??諝庵械奈⒘T诠獾恼丈湎聲?huì)發(fā)生散射,這種現(xiàn)象叫光散射。光散射和微粒大小、光波波長(zhǎng)、微粒折射率及微粒對(duì)光的吸收特性等因素有關(guān)。但是就散射光強(qiáng)度和微粒大小而言,有一個(gè)基本規(guī)律,就是微粒散射光的強(qiáng)度隨微粒的表面積增加而增大。這樣只...
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在以往的平面測(cè)量方式里,都是采用工業(yè)投影儀以及影像測(cè)量?jī)x進(jìn)行測(cè)量,但是在平面測(cè)量的發(fā)展過(guò)程中也發(fā)現(xiàn)了這些測(cè)量?jī)x器的使用缺陷,正是這些需要改進(jìn)的特點(diǎn),從而衍生出了一鍵測(cè)量?jī)x,傳統(tǒng)的尺寸測(cè)量?jī)x也在逐步的替換為一鍵測(cè)量?jī)x。在機(jī)械零件加工行業(yè),在加工完一個(gè)機(jī)械零件后,我們需要對(duì)該機(jī)械零件的二維尺寸參數(shù)進(jìn)行檢測(cè),以確定產(chǎn)品質(zhì)量是否合格,傳統(tǒng)的檢測(cè)手段有投影儀、卡尺等,隨著技術(shù)的進(jìn)步,測(cè)量?jī)x逐步替代傳統(tǒng)檢測(cè)手段,成為新的測(cè)量解決方案。測(cè)量?jī)x是一種新型的影像測(cè)量技術(shù)。它和傳統(tǒng)的二次元影像測(cè)...
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尼康高度計(jì)包括高精度光柵裝置、密珠導(dǎo)軌的測(cè)量桿裝置、高性能的高速采樣等。高度計(jì)采用高精度光柵作為測(cè)量基準(zhǔn),選用玻璃基體的增量式光柵尺,所以測(cè)量支持大測(cè)量范圍,對(duì)震動(dòng)和沖擊不敏感,并具有確定的溫度特性。尼康高度計(jì)的掃描方法為光電掃描,因此無(wú)機(jī)械接觸也無(wú)磨損。電子設(shè)備對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行細(xì)分至納米級(jí)的極小測(cè)量步距,從而確保一個(gè)信號(hào)周期內(nèi)微小位置誤差。廣泛適用于多種應(yīng)用,其應(yīng)用包括精密工件檢測(cè)、多點(diǎn)檢測(cè)、測(cè)量設(shè)備監(jiān)測(cè)和位置測(cè)量等眾多領(lǐng)域。尼康高度計(jì)是一部高精度的高度規(guī),是為了量小尺度的工...
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索尼高度計(jì)是用來(lái)測(cè)量物體水平高度,即海拔的工具。高度的測(cè)量被稱為測(cè)高,與測(cè)深,即測(cè)量水下深度類似。有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、重復(fù)性好等特點(diǎn)。高度計(jì)可廣泛適用于產(chǎn)品計(jì)量、多點(diǎn)檢測(cè)、測(cè)量設(shè)備監(jiān)測(cè)和位置測(cè)量等眾多領(lǐng)域,對(duì)長(zhǎng)度、間距、厚度、高度或直線位移進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量。索尼高度計(jì)的結(jié)構(gòu)原理:儀器包括高精度光柵裝置、密珠導(dǎo)軌的測(cè)量桿裝置、高性能的高速采樣等。多型號(hào)高度計(jì)高度計(jì)采用精度光柵作為測(cè)量基準(zhǔn),選用玻璃基體的增量式光柵尺,所以測(cè)量支持大測(cè)量范圍,對(duì)震動(dòng)和沖擊不敏感,并具有確定的溫度...
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三次元是高精密的測(cè)量?jī)x器,決定其高精度的重要因素除了三次元本身的設(shè)計(jì)外,測(cè)針的選擇和使用也是不可忽視的。下面小編介紹一下三次元測(cè)針的選型。為保持接觸點(diǎn)的精度,對(duì)于三次元選擇測(cè)針的建議如下:1、盡可能選擇短的測(cè)針:因?yàn)闇y(cè)針越長(zhǎng)彎曲或變形量越大,精度越低;2、盡可能減少測(cè)針組件數(shù):每增加一個(gè)測(cè)針與測(cè)針桿的連接,便增加了一個(gè)潛在的彎曲和變形點(diǎn);3、盡可能選用測(cè)球直徑越大的測(cè)針:一是這樣能增大測(cè)球測(cè)針桿的距離,從而減少由于碰撞測(cè)針桿所引起的誤觸發(fā);其次,測(cè)球直徑越大,被測(cè)工件表面粗糙...
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